底部填充胶在使用过程中，出现空洞和气隙是很普遍的问题，出现空洞的原因与其封装设计和使用模式相关，典型的空洞会导致可靠性的下降。了解空洞形成的不同起因的及其特性，以及如何对它们进行测试，将有助于解决底部填充胶underfill的空洞问题。

空洞的特性

        了解空洞的特性有助于将空洞与它们的产生原因相联系，其中包括：

        1.1 形状——空洞是圆形的还是其他的形状？

        1.2 尺寸——通常描述成空洞在芯片平面的覆盖面积。

        1.3 产生频率——是每10个器件中出现一个空洞，还是每个器件出现10个空洞？空洞是在特定的时期产生，还是一直产生，或者是任意时间产生？

        1.4 定位——空洞出现在芯片的某个确定位置还是任意位置？空洞出现是否与互连凸点有关？空洞与施胶方式又有什么关系？

空洞检测方法

        Under fill底部填充胶空洞检测的方法。主要有三种：

        2.1 利用玻璃芯片或基板：直观检测，提供即时反馈，缺点在于玻璃器件上底部填充胶(underfill)的流动和空洞的形成行与实际的器件相比可能有些细微的偏差。

        2.2 超声成像和制作芯片剖面：超声声学成像是一种强有力的工具，它的空洞尺寸的检测限制取决于封装的形式和所使用的仪器；

        2.3 将芯片剥离的破坏性试验：采用截面锯断，或将芯片或封装从下underfill底部填充胶上剥离的方法，有助于更好地了解空洞的三维形状和位置，缺点在于它不适用于还未固化的器件。

底部填充胶空洞产生原因

        3.1流动型空洞

        流动型空洞（其中还存在着几种子类型），都是在underfi....